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徠卡工業課堂 | 紫外成像應用分享發布時間：2026-01-30

紫外的應用點紫外成像可以獲得比可見光成像更高的分辨率，能夠量測更小的尺寸及分辨更小的缺陷。廣泛應用于晶圓和掩膜版關鍵尺寸(CD)測量及缺陷分析。（基于瑞利公式對比，基于紫外光和可見光波段相比，基于相同0.9NA物鏡對比）什么是關鍵尺寸晶圓/掩膜版的CD（關鍵尺寸），是芯?微結構中...

2024
9-9

智能正置金相顯微鏡：探索材料的微觀世界
在現代工業生產和科學研究中，對材料的微觀結構進行觀察與分析變得日益重要。無論是新材料的研發，還是產品質量控制，都離不開對材料表面及內部組織結構的深入理解。智能正置金相顯微鏡作為一種先進的顯微成像工具，以其性能和智能化的操作方式，在材料科學領...
2024
9-6

倒置金相顯微鏡的校準工作步驟有哪些
倒置金相顯微鏡的校準是確保其精確性和可靠性的關鍵步驟。校準過程通常涉及幾個關鍵方面，包括聚焦系統、光源和物鏡對準、以及圖像清晰度的調整。以下是倒置金相顯微鏡校準的基本步驟：1.準備工作-清潔設備：確保顯微鏡的所有光學部件(如目鏡、物鏡和光源...
2024
9-3

徠卡175周年：膜片鉗技術簡介
膜片鉗技術簡介離子通道的生理學一直是神經科學家感興趣的一個重要話題。誕生于1970年代的膜片鉗技術開啟了電生理學家的新時代。它不僅可以對整個細胞進行高分辨率電流記錄，還可以對切下的細胞膜片進行高分辨率電流記錄。甚至可以研究單通道事件。然而，...
2024
9-3

顯微課堂 | 使用安裝框架進行光片樣品準備
樣品處理通常是光片顯微鏡研究中的一個關鍵話題。徠卡顯微系統的TCSSP8DLS將光片技術集成到倒置共聚焦平臺中，因此可以利用關于樣品安裝和XY-stage功能的一般原則。本文將描述一組安裝框架，這些框架不僅允許準備更多的樣品，尤其是在使用諸...
2024
9-2

LEICA顯微鏡的序列號怎么查
如果您需要查找您的顯微鏡序列號，請按照以下步驟操作：1.查找交貨單或產品標簽：序列號通常可以在隨產品發貨的交貨單上找到。如果您保留了原始工廠包裝，產品標簽上也會有序列號。2.復式顯微鏡序列號位置：正置顯微鏡：在設備背面的識別標簽上找到序列號...
2024
9-2

顯微課堂 | EM TIC 3X進行離子束刻蝕簡介
在這篇文章中，您可以了解到如何通過使用EMTIC3X離子束研磨拋光儀的離子束蝕刻工藝來優化樣品的制備質量。EMTIC3X離子束研磨拋光儀EMTIC3X是一種非聚焦離子束研磨設備，可用于制備截面和平面樣品，用于掃描電子顯微鏡（SEM）、光學顯...

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